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Référence
20170023_0045
Démonstrateur 100 fois plus petit que l'enceinte de caractérisation située à côté
Au 1er plan, démonstrateur 100 fois plus petit que l'enceinte située à côté, dont il reproduit à plus petite échelle les caractéristiques. Il démontre la capacité à intégrer les fonctions de traitement du signal réalisées par des composants supraconducteurs dans un volume faible.
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